Automação do difratômetro de Raios-X para policristais Philips PW 1850/25: uma contribuição para a otimização da análise de amostras de interesse geológico

Authors

  • George Gilberto Gomes Júnior

DOI:

https://doi.org/10.11137/2006_2_288-289

Abstract

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Published

2006-01-01

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POSTGRADUATE PROGRAM IN GEOLOGY - MASTER'S