Automação do difratômetro de Raios-X para policristais Philips PW 1850/25: uma contribuição para a otimização da análise de amostras de interesse geológico
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Publicado
2006-01-01
Como Citar
Gomes Júnior, G. G. (2006) “Automação do difratômetro de Raios-X para policristais Philips PW 1850/25: uma contribuição para a otimização da análise de amostras de interesse geológico”, Anuário do Instituto de Geociências. Rio de Janeiro, BR, 29(2), p. 288–289. doi: 10.11137/2006_2_288-289.
Edição
Seção
Programa de Pós-Graduação em Geologia - Mestrado
Licença
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